薄膜厚度測量儀-薄膜測厚儀

薄膜厚度測量儀-薄膜測厚儀測試原理

機械接觸式測試原理，裁取一定尺寸試樣，測量頭自動下降在試樣之上，在一定壓力和一定接觸面積下測試出試樣的厚度值。

薄膜厚度測量儀-薄膜測厚儀產品特征

7寸液晶觸摸屏顯示，一鍵化操作

嚴格按照標準設計的接觸面積和測量壓力

測試過程中測量頭自動升降，有效避免了人為因素造成的系統誤差

測試數據精確穩定，每次測量前測量頭自動清零

實時顯示測量結果的最大值、最小值、平均值以及標準偏差等分析數據

系統支持數據實時顯示、自動統計、儲存、打印等許多實用功能

微型打印機方便測試結果快捷輸出

設備內置歷史數據統計、查詢，并可搜索歷史數據

技術參數

測試范圍： 0～2 mm（標配）

分 辨 率： 0.1 μm （0.01um可選）

測量速度：10 次/min

測量壓力：17.5±1 kPa

測 量 頭： 50 mm²（球形測頭可選）

尺寸: 450mm(L)*350mm(W)*400mm(H)

重量：35kg

測試標準

該設備滿足多項國家和標準：ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983, BS 4817、GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547